美國OEwaves公司
2000 年 8 月，OEwaves 于美國加利福尼亞州成立，始終專注于將前沿概念性的微波光學技術轉化為現實產品，推動其廣泛應用于光通信、雷達以及測量系統領域。公司技術實力雄厚，擁有多達 126 項專利，其中微波光子領域專利超 30 項。這一卓越成果使其在電氣和電子工程師協會（IEEE）半導體制造專利權排名中位居前 20 名，還榮獲了兩個著名的 SPIE Prism 獎、IEEE Sawyer 獎及 Patrick Soon-Shiong 創新獎等無數獎項。
OEwaves 的核心技術包括光電振蕩器（OEO）和回音壁模式的諧振腔（WGM）。基于這些技術，公司研發出零差測試系統，能夠精準測量激光器產品的相位噪聲和頻率噪聲。同時，利用專業的 WGM 光學諧振腔搭配晶線材料，成功制造出高品質因子（Q）的激光器與光學濾波器，并設計出新穎的光學微波接收機結構。這些技術成果不僅大幅縮減了產品尺寸、降低了功耗，還顯著提升了產品性能。此外，通過應用光電反饋回路技術，公司生產的激光器光學性能得到了極大提升。
在產品方面，公司的核心產品激光線寬/頻率噪聲測試儀尤為突出。該儀器采用零差方法自動測量，能精準檢測超低相位噪聲的激光器光源。借助便捷的軟件界面，可瞬間完成對 10Hz 以下線寬激光器的測試，無需復雜系統搭建。其零差測試法測量范圍廣，無需額外超窄激光器，還能同時測試相位/頻率噪聲及相對噪聲強度（RIN）。
OEwaves 的超窄線寬激光器模塊，配備高精度驅動控制單元與具有高 Q 值及 WGM 結構微型諧振腔的 OEwaves 激光器種子源。通過諧振腔回波反饋機制鎖定商用激光器，實現模塊自注射平衡，并利用集成電路控制排除外界環境干擾。該激光器模塊相位噪聲遠低于傳統產品，有力改善了雷達、通訊及測試系統等領域的應用測量水平，為行業發展注入強勁動力。
